一、高溫對設備運行的影響
(1)溫度與平均無(wú)故障運行時(shí)間的關(guān)系——10℃法則
溫度與平均無(wú)故障運行時(shí)間的關(guān)系：由于現代電子設備所用的電子元器件的密度越來(lái)越高，使元器件之間通過(guò)傳導、輻射和對流產(chǎn)生熱耦合。因此，熱應力已經(jīng)成為影響電子元器件時(shí)效的一個(gè)最重要的因素。對于某些電路來(lái)說(shuō)，可靠性幾乎完全取決于熱環(huán)境。為了達到與其的可靠性目的，必須將元器件的溫度降低到實(shí)際可以達到的最低水平。有資料表明：環(huán)境溫度每提高10℃，元器件壽命約降低30%-50%，影響小的也基本都在10%以上，這就是有名的“10℃”法則。
(2)高溫對元器件的影響
A、半導體器件。電子元器件在工作時(shí)產(chǎn)生大量的熱，如果沒(méi)有有效的措施及時(shí)把熱三走，就會(huì )使集成電路和晶體管等半導體器件形成結晶，這種結晶是直接影響計算機性能、工作特性和可靠性的重要因素。
根據實(shí)驗得知，室溫在規定范圍內每增加10℃，其可靠性約下降25%。
器件周?chē)沫h(huán)境大約超過(guò)60℃時(shí)，就將引起計算機發(fā)生故障，當半導體期間的溫度過(guò)高時(shí)，其穿透電流和電流倍數就會(huì )增大。
B、電容器。溫度對電容器的影響主要是：使電解電容器電解質(zhì)中的水份蒸發(fā)增大，降低其容量，縮短其使用壽命，改變電容器的介質(zhì)損耗，影響其功率因數等參數變化。由實(shí)驗得知，在超過(guò)規定溫度工作時(shí)，溫度每增加10℃，其使用時(shí)間下降50%。
C、記錄介質(zhì)。實(shí)驗表明：當磁帶、磁盤(pán)、光盤(pán)所處溫度持續高于37.8℃時(shí)，開(kāi)始出現損壞;當溫度持續高于65.6℃時(shí)則完全損壞。對于磁介質(zhì)來(lái)說(shuō)，隨著(zhù)溫度的升高，磁導率增大;當溫度達到某一個(gè)值時(shí)，磁介質(zhì)丟失磁性，磁導率急劇下降。磁性材料失去磁性的溫度稱(chēng)為居里溫度。
D、絕緣材料。由于高溫的影響，用玻璃纖維膠板制成的印制電路板將發(fā)生變形甚至軟化，結構強度變弱，印制板上的銅箔也會(huì )由于高溫的影響而使粘貼強度降低甚至剝落，高溫還會(huì )加速印制插頭和插座金屬簧卡的腐蝕，使接點(diǎn)的接觸電阻增加。
E、電池環(huán)境溫度與壽命的關(guān)系。電池是對環(huán)境溫度最敏感的器件(設備)，溫度在工作溫度25℃的基礎上，每上升10℃，壽命下降50%。
二、低溫對IT設備運行的影響
低溫同樣導致IT設備運行、絕緣材料、電池等問(wèn)題。當機房溫度過(guò)低時(shí)，部分IT設備將無(wú)法正常運行。
(1)機房溫度過(guò)低導致設備無(wú)法運行,機房的環(huán)境溫度低于5℃時(shí)，通信設備將無(wú)法正常運行;機房的環(huán)境溫度低于-40℃時(shí)，鉛酸電池無(wú)法提供能量。
(2)絕緣材料
低溫時(shí)，絕緣材料會(huì )變硬、變脆，使結構強度同樣減弱。對于軸承和機械傳動(dòng)部分，由于其自身所帶的潤滑油受冷凝結，黏度增大而出現黏滯現象。溫度過(guò)低時(shí)，含錫量高的焊劑會(huì )發(fā)生支解，從而降低電氣連接的強度，甚至出現脫焊、短路等故障。
(3)電池環(huán)境溫度與放電容量的關(guān)系
同樣，當工作溫度為25℃之下時(shí)，隨著(zhù)溫度的下降，電池放電容量下降。
三、濕度對IT類(lèi)設備運行的影響
通常，IT類(lèi)設備的工作環(huán)境要求濕度為40%-55%。超過(guò)65%的濕度，為濕度過(guò)高;超過(guò)80%屬于潮濕;低于40%術(shù)語(yǔ)濕度過(guò)低(空氣干燥)。
(1)濕度過(guò)高對IT類(lèi)設備運行的影響
當空氣的相對濕度大于65%時(shí)，物體的表面附著(zhù)一層厚度為0.001-0.01μm的水膜;濕度為100%時(shí)，水膜厚度為10μm。這樣的水膜容易造成“導電小路”或者飛弧，會(huì )嚴重降低電路可靠性。
在相對濕度保持不變的情況下，溫度越高，對設備的影響越大，這是因為水蒸氣壓力隨溫度升高而增大，水分子易于進(jìn)入材料內部。
當相對濕度由25%增加到85%時(shí)，紙張的厚度將增加80%，這就是在潮濕的天氣里打印機無(wú)法正常工作的原因。
(2)濕度過(guò)低對IT類(lèi)設備運行的影響
靜電放電是電子工業(yè)中的曾普遍存在的“硬病毒”，在內、外因條件具備的特定時(shí)刻便會(huì )發(fā)作，已成為電子工業(yè)的隱形殺手。
據報道，僅美國電子工業(yè)每年因靜電放電造成的損失就達幾百億美元。根據Intel公司公布的資料顯示，在引起計算機故障的諸多因素中，電氣過(guò)應力(ElectricalOverStree,EOS)/ESD是最大的隱患，將近一半的計算機故障都是由EOS/EDS引起的，ESD對計算機的破壞作用具有隱蔽性、潛在性、隨機性和復雜性的特點(diǎn)。
IT類(lèi)設備由眾多芯片、元器件組成，這些元器件對靜電都很敏感，不同的靜電敏感器件受靜電損傷的閾值電壓不同。在空氣濕度過(guò)低時(shí)，工作人員的活動(dòng)非常容易產(chǎn)生靜電電壓。
實(shí)驗表明，當機房相對濕度為30%時(shí)，靜電電壓為5000v;當機房相對濕度為20%時(shí)，靜電電壓為10000v;當機房相對濕度為5%時(shí)，靜電電壓可高達20000v以上。這足以表明濕度對運行中的IT設備的重要性。

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